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IC測試治具產品特性:
手動翻蓋式結構,使用方便。
上蓋的IC壓板采用旋壓式結構,下壓平穩,壓力可調。
不同的測試點有不同型號探針,接觸可靠,而不會損壞測試點。
高精度定位,保證IC定位精確,測試穩定。
特殊結構,可以測試有球和無球BGA.
探針可更換,維修方便。
小間距可做到0.4MM
交貨迅速,隨時可以技術支持。
IC測試座是用來把程序燒錄進芯片的,需要編程器的配合才能燒錄。把IC測試座放在編程器上面的插槽里,然后把IC芯片放到座子里面進行燒錄。那么IC測試座的功能包括哪些呢?
IC測試座的功能包括:
探測球小至0.3毫米
定制封裝&貼裝到現有設備表面
雙面測試
多種頂蓋樣式可選
適合微觀探測的超薄頂蓋
多種類型的彈簧測試探針可以滿足大多數需求(無鉛、低電感、高強度、高電流,開爾文測試座等等)。
打開IC測試座來進行背面發射
適用于射頻特征和測試的低電感測試探針
適用于無鉛封裝的高強度頂針
IC測試座內置開口以便于元件放置
雙側測試
對接處理器的接口
多站點的IC測試治具
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