ICT雙面測試

　　FCT測試治具單面測試治具配天板方便交換機種使用可調培林座,容易保養;使用壓克力＆電木＆fr4材質＆INGUN板材（或指定）。

　　根據客戶使用習慣采用Fabmaster＆宇柏林＆考迪分析軟件自動處理gerber文件，軟件自動生成鉆孔文件，保證鉆孔精度。測試程式自動生成，避免手工輸入出錯。

　　ICT測試治具適用于tri、jet、newsys、okano、tescon、gwposhell、src、concord等ICT在線測試儀機型。

　　IC測試治具閱讀時間的方法

　　IC測試治具的測試閱讀時間有什么方法？公司電子總結出以下內容，希望對你有幫助，從內存中讀取所需的數據，內存訪問時間的IC測試治具。方法測試治具測試閱讀時間一般如下：

　　1，對單元寫數據0”；

　　2，寫“1單元B”的數據；

　　3，堅持閱讀使讀值；

　　4，基本上是在記憶的持續時間的IC測試過爐治具的測量數據

　　5，轉換時間從地址轉換來轉換數據之間的時間；

　　6，恢復時間之后所寫的，寫的讀取存儲單元必須等待時間；

　　7，暫停時間，存儲單元可以保持其狀態的時間。

　　8，刷新時間刷新存儲器；

　　9，建立的時間——變換輸入的數據必須被鎖定在輸入時鐘的時間提前；

　　10，堅持以輸入的數據必須堅持的時間鎖定的時鐘輸入。

　　同時，改變IC測試治具的測試周期，通過反復運行功能測試。測試設備的速度，周期和頻率通常是通過二進制搜索法的快速變化，頻率測試發現該設備可以運行。